玻璃金属封装性测试与评估:
LED器件的失效模式主要包括电失效（如短路或断路）,光失效（如高温导致的灌封胶黄化,光学机能劣化等）和机械失效（如引线断裂,脱焊等）,而这些因素都与封装结构和工艺有关.LED的使用寿命以均匀失效时间（MTTF）来定义,对于照明用途,一般指LED的输出光通量衰减为初始的70％（对显示用途一般定义为初始值的50％）的使用时间.因为LED寿命长,通常采取加速环境试验的方法进行性测试与评估.测试内容主要包括高温储存（100℃,1000h）,低温储存（－55℃,1000h）,高温高湿（85℃/85％,1000h）,高低温轮回（85℃～－55℃）,热冲击,耐侵蚀性,抗溶性,机械冲击等.然而,加速环境试验只是题目的一个方面,对LED寿命的猜测机理和方法的研究还是有待研究的挫折.